冷熱沖擊試驗(yàn)箱原理引起的失效現(xiàn)象
作者：冷熱沖擊試驗(yàn)箱原????發(fā)布時(shí)間：2020-04-27 09:30 ????
冷熱沖擊試驗(yàn)箱原理試驗(yàn)主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱原理關(guān)鍵用以對(duì)商品依照國(guó)家軍工用規(guī)范規(guī)定或客戶自定規(guī)定，在高溫與低溫一瞬間轉(zhuǎn)變標(biāo)準(zhǔn)下，對(duì)商品的物理學(xué)及其別的有關(guān)特點(diǎn)開展環(huán)境模擬檢測(cè)，檢測(cè)后，根據(jù)檢驗(yàn)，來(lái)分辨商品的特性，是否依然可以合乎預(yù)訂規(guī)定，便于供設(shè)計(jì)產(chǎn)品、改善、評(píng)定及原廠檢測(cè)用。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱原理而造成的無(wú)效狀況，以便確保電子設(shè)備具備高些的可信性水準(zhǔn)，伴隨著商品抗?jié)衲艿奶嵘?，除開相對(duì)性移動(dòng)式的溫度環(huán)境濕度實(shí)驗(yàn)外，對(duì)熱冷沖擊試驗(yàn)的規(guī)定也愈來(lái)愈多，主要表現(xiàn)在：
1、以便降低成本費(fèi)，選用新型材料，新技術(shù)新工藝。
2、整個(gè)設(shè)備的實(shí)用化促使電子器件更為非常容易遇熱。
3、生產(chǎn)過(guò)程中電子器件將會(huì)會(huì)遭受比較嚴(yán)重的焊接應(yīng)力影響，比如：當(dāng)選用焊錫絲電焊焊接時(shí)。
4、因?yàn)樯唐肪芏鹊囊?guī)定，電子器件持續(xù)地遭受更大的焊接應(yīng)力影響。
5、伴隨著攜帶式電子設(shè)備的普及化，商品應(yīng)用自然環(huán)境越來(lái)越更為繁雜、嚴(yán)苛。
6、可信性規(guī)定及水準(zhǔn)愈來(lái)愈高。
冷熱溫度沖擊不同于普通濕熱環(huán)境，它是通過(guò)冷熱溫度沖擊來(lái)發(fā)現(xiàn)常溫狀態(tài)下，難以發(fā)現(xiàn)的潛在故障問(wèn)題。決定冷熱沖擊試驗(yàn)箱原理的只要因素有:試驗(yàn)溫度范圍、暴露時(shí)間、循環(huán)次數(shù)、試驗(yàn)樣品重量及熱負(fù)荷等。
